穩態卡計法測量材料在不同溫度條件下半球發射率

通過合理設計,組裝了一臺穩態卡計法熱輻射測量儀,它可以測量材料在173～373 K溫度范圍內的半球熱輻,射率.本文對該裝置進行了詳細介紹和誤差分析,并報道了多種衛星溫度控制用熱輻射材料和一種新型熱致變色材料(thermochromic material)的半球總發射率測量結果.

作 者： 唐根初 于云 李瑩 曹韞真 TANG Gen-chu YU Yun LI Ying CAO Wen-zhen   作者單位： 中國科學院上海硅酸鹽研究所,上海,200050  刊 名： 低溫物理學報  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS  年，卷(期)： 2008 30(3)  分類號： O51  關鍵詞： 發射率   穩態卡計法   涂層  

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